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一種可對微米級晶體顆粒進行三維成像的Ｘ射線顯微鏡已由美國科學家研製成功。它作爲一種新的工具，有望應用於冶金、半導體和生物等研究領域。
美國伊利諾伊大學厄巴納－尚佩恩分校的魯濱遜教授近日在美國物理學會春季年會上介紹說，他與合作者們研製出的新型Ｘ射線顯微鏡主要通過連續Ｘ射線衍射來成像，能夠透過材料的表面，對位於固體或液體內部的晶體顆粒細節進行分析。
該顯微鏡沒有物鏡，但可以利用計算機將觀測物體的二維Ｘ射線衍射圖案進行數學變換處理，形成高分辨率的三維圖像。衍射圖案由顯微鏡上的一個電荷耦合探測器負責收集，並轉換成計算機可以讀取的信號。新型Ｘ射線顯微鏡採用的計算機算法，與目前用於醫療成像分析的計算機輔助Ｘ射線斷層照相技術有些類似。
魯濱遜教授認爲，這種新工具將對研究蛋白質晶體生長具有重要意義。它可以幫助結構生物學家獲得有關蛋白質晶體形成早期的信息，從而加深對蛋白質晶體生長機制的理解。
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